学術論文 |
- "Individual identification method for electronic devices using differences in spectrum emissions caused by manufacturing and assembly variations," IEICE Communications Express, 12 Aug. 2026
- Kiki Abe, Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Masahiro Kinugawa, Laurent Sauvage, Jean-Luc Danger, Yuichi Hayashi
 [ doi:10.23919/comex.2026XBL0124 ]
- "Capacitance Sensor-Based Board-Level PUF for Device Identification," IEEE Access, 8 Sep. 2025
- Rikuo Haga, Ayaki Tachikake, Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Yuichi Hayashi
[ doi:10.1109/ACCESS.2025.3606858 ]
- "Echo TEMPEST: EM Information Leakage Induced by IEMI for Electronic Devices," IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol.65, no.3, pp655-666, Jun. 2023
- Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Masahiro Kinugawa, Yuichi Hayashi
[ doi:10.1109/TEMC.2023.3252636 ]
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受賞 |
- "Best Symposium Paoperー1st Place," 2026 Asia-Pacific International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Campatibility (APEMC 2026), 5 May. 2026
- Yuki Akatsuka, Shugo Kaji, Kitazawa Taiki, Yuichi Hayashi
- "若手優秀賞," 電子情報通信学会 総合大会, 2025.12.15
- 井出 隼人, 北澤 太基, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 春日 貴志, 林 優一
- "優秀ポスター賞," 電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティ研究専門委員会, 2025.12.15
- 井出 隼人, 松本 匠平, 北澤 太基, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 春日 貴志, 林 優一
- "優秀論文発表賞," 電子情報通信学会関西支部 若手研究者発表会, 2025.12.3
- 井出 隼人, 松本 匠平, 北澤 太基, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 春日 貴志, 林 優一
- "優秀論文発表賞," 電子情報通信学会関西支部 若手研究者発表会, 2025.12.3
- 名越 遼, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 林 優一
- "最優秀ポスター賞," ハードウェアセキュリティサマーセミナー運営委員会, 2025.9.30
- 井出 隼人, 鍛治 秀伍, 藤本 大介, 林 優一
- "ハードウェアセキュリティ研究会 若手優秀賞," 電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティ研究会, 2024.12.16
- 松本 匠平
- "優秀ポスター賞 ," 【サマーセミナー運営委員会】, 2024.9.27
- 角野匠
- "Richard B. Schulz Best Transactions Paper Award," IEEE EMC Society, 8 Aug. 2024
- Shugo Kaji, Daisuke Fujimoto, Masahiro Kinugawa, Yuichi Hayashi
- "ハードウェアセキュリティ研究会若手優秀賞," 電子情報通信学会 ハードウェアセキュリティ専門委員会, 2023.12.15
- 近藤 嵩之
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